成功大學核心設施中心　

TOF-SIMS時間飛行二次離子質譜儀研討會

博精儀器與成大核心設施中心共同於南台灣首次舉辦，時間飛行二次離子質譜儀介紹與應用研討會，

ULVAC原廠經理特此南下至成功大學進行交流。

時間飛行二次離子質譜儀（TOF-SIMS）可精準掌握樣品極表層的化學資訊，

本研討會將介紹最新一代PHI nanoTOF 3+系統的核心突破，

對於追求研究深度的師生而言，是不容錯過的交流學習機會。

日期：2026年5月19日（星期二）

時間：14:00～15:00

地點：自強校區儀器設備大樓9F  907會議室

對象：從事表面化學分析相關研究工作，利用時間飛行二次離子質譜儀進行研究從事應用或學術研究的師生，

希望學習和瞭解時間飛行二次離子質譜儀最近進展的相關人士。

報名網址：https://forms.gle/GD26hHSVWwjy3rHK9 （限40名）

免費活動，名額有限，歡迎踴躍報名參加，以免向隅！