儀器中文全名

單晶X光繞射儀

儀器中文簡稱

單晶繞射儀

儀器英文全名

Single Crystal X-ray diffraction

儀器英文簡稱

SCXRD

儀器位置

B1F/B112

儀器管理人

洪慈蓮

TEL

31359

E-mail

z11205048@ncku.edu.tw

技術類別

(請勾選)

□ 微影

□ 蝕刻

□ 後處理

□ 薄膜成長

□ 試片製備

□ 奈米壓痕

□ 掃描探針

□ 掃描式電顯

□ 穿透式電顯

□ 離子電子雙束系統

□ 光學顯微鏡

□ 光學檢測

□ 晶體分析

□ 粒徑分析

□ 物理性質

□ 核磁共振儀

□ 表面分析

□ 質譜儀

□ 進階服務

□ 其他

應用/功能簡介

(100字內)

單晶X光繞射儀用於未知結構解析，常用於有機分子、金屬錯合物、有機金屬框架、無機材料、固態材料等各式晶體。獲得的結構資訊有最小晶胞尺寸、晶格型態、原子在空間中排列分布、原子間的鍵長、鍵角及熱擾動位移參數。

廠牌/型號

50. 廠牌：Bruker
50. 型號：D8 Venture Ims 3.0 Mo

條列說明

重要規格

50. Mo靶波長：0.71 Å
50. 溫度範圍：80 ~ 400 K
50. 壓力範圍：0 ~ 20 GPa (尖端量測服務)
50. 樣品尺寸：0.05 ~ 1 mm

條列說明

使用規定

1. 樣品須為”單晶”，薄膜與粉末樣品都無法測量。
2. 晶體大小：

有機化合物與有機金屬化合物：> 0.04×0.04×0.04 mm³

無機化合物：> 0.02×0.02×0.02 mm³

3. 空氣敏感樣品請先來電洽詢

預約系統

[請附網頁連結] 國家科學及技術委員會-基礎研究核心設施預約服務管理系統

技術手冊

[請另外提供電子檔]