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光學檢測

光學檢測 Property Analysis/Detection

光學檢測 Property Analysis/Detection

微拉曼及微光激發光譜儀 (Micro-Ramam & Micro-PL Sperctrometer)

 

拉曼光譜儀/顯微鏡 (Ramam Sperctrometer/Microscopy)

儀器中文全名

4201 拉曼光譜儀/顯微鏡

儀器中文簡稱

顯微拉曼

儀器英文全名

4201 Microscopes Raman Spectrometer

儀器英文簡稱

Raman/OM

儀器位置

B1檢測實驗室

儀器管理人

李芃葶

TEL

06-2757575 #31389

E-mail

ptli@ncku.edu.tw

技術類別

(請勾選)

□ 微影

□ 蝕刻

□ 後處理

□ 薄膜成長

□ 試片製備

□ 奈米壓痕

□ 掃描探針

□ 掃描式電顯

□ 穿透式電顯

□ 離子電子雙束系統

□ 光學顯微鏡

■ 光學檢測

□ 晶體分析

□ 粒徑分析

□ 物理性質

□ 核磁共振儀

□ 表面分析

□ 質譜儀

□ 進階服務

□ 其他

應用/功能簡介

(100字內)

利用拉曼散射現象將樣品進行分析,從而獲取樣品分子結構和振動特性的資訊。

拉曼光譜應用雷射光進行測量,雷射入射光子與物質相互作用時,會產生頻率產生變化的散射光子,此變化稱拉曼位移,藉由量測此位移可以取得樣品的分子結構和振動特性。

透過拉曼光譜技術,可以了解生物分子、材料和化學物質等的結構與性質。

廠牌/型號

  • 廠牌:Renishaw
  • 型號:inVia Raman microscope

條列說明

重要規格

  • 光源:雷射 514nm / 633nm / 785nm
  • 頻率範圍:100~4000 cm-1
  • 具備不同深度與映像功能
  • 樣品型態:固態與液體
  • 光柵:1200 / 1800 gr/mm
  • 最小雷射光斑直徑:≦1um

條列說明

使用規定

不得量測具揮發性、有毒有機溶劑。

預約系統

微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list

微奈米系統-代工:

https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_OEM/OEM_application

技術手冊

[請另外提供電子檔]

傅立葉轉換紅外光光譜儀 (Fourier Transform Infrared Sperctrometer)

儀器中文全名

4203 傅立葉轉換紅外光光譜儀

儀器中文簡稱

傅立葉轉換紅外光光譜儀

儀器英文全名

4203 Fourier Transform Infrared Spectrometer

儀器英文簡稱

FTIR

儀器位置

B1檢測實驗室

儀器管理人

莊雅雯

TEL

06-2757575 #31383 #9

E-mail

10708150@gs.ncku.edu.tw

技術類別

(請勾選)

□ 微影

□ 蝕刻

□ 後處理

□ 薄膜成長

□ 試片製備

□ 奈米壓痕

□ 掃描探針

□ 掃描式電顯

□ 穿透式電顯

□ 離子電子雙束系統

□ 光學顯微鏡

光學檢測

□ 晶體分析

□ 粒徑分析

□ 物理性質

□ 核磁共振儀

□ 表面分析

□ 質譜儀

□ 進階服務

□ 其他

應用/功能簡介

(100字內)

紅外線光譜學是研究某一化學分子或化學物種因吸收 (或發射)紅外線輻射而在某些振動模式下產生振動或振動—轉動能量的變化。藉助於紅外線光譜的分析,化合物的鑑定與含量得以決定。

廠牌/型號

  • 廠牌:Thermo
  • 型號:Nicloet

條列說明

重要規格

  • 光譜範圍:標準中紅外範圍 4000-400cm-1
  • 測試方法:穿透式、反射式、ATR
  • 快速掃瞄資料收集:每秒鐘至少可進行 50次掃瞄
  • 偵測器:DTGSKBr、MCT

條列說明

使用規定

  • 本中心提供油壓機、研缽及13 mm打錠模組。KBr可自備,中心另售KBr 25元/g。
  • 鍍層厚度<1 μm請勿送樣,超過本機台量測極限。
  • 掃描次數、解析度為影響量測時間主要因素,可以先參考您們所參考paper所使用的參數或與老師商量。
  • 完成量測後會email寄送檔案與通知取件,請盡快拿回您的樣品,本中心不負保管責任。

預約系統

微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list

微奈米系統-代工:

https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_OEM/OEM_application

技術手冊

[請另外提供電子檔]

紫外光-可見光-近紅外光光譜儀 (UV/Visual/NIR Sperctrophotometer)

儀器中文全名

4204 紫外光/可見光/近紅外光分光光譜儀

儀器中文簡稱

紫外光/可見光/近紅外光分光光譜儀

儀器英文全名

4204 UV/Visible/NIR Spectrophotometer

儀器英文簡稱

UV/Visible/NIR Spectrophotometer

儀器位置

B1檢測實驗室

儀器管理人

莊雅雯

TEL

06-2757575 #31383 #9

E-mail

10708150@gs.ncku.edu.tw

技術類別

(請勾選)

□ 微影

□ 蝕刻

□ 後處理

□ 薄膜成長

□ 試片製備

□ 奈米壓痕

□ 掃描探針

□ 掃描式電顯

□ 穿透式電顯

□ 離子電子雙束系統

□ 光學顯微鏡

光學檢測

□ 晶體分析

□ 粒徑分析

□ 物理性質

□ 核磁共振儀

□ 表面分析

□ 質譜儀

□ 進階服務

□ 其他

應用/功能簡介

(100字內)

此儀器測量涵蓋了廣泛的波長範圍和樣本大小,能夠滿足各種分析需求,結合各種特殊的附件,如利用積分球測量物件的穿透率和反射率,並且可以測量低噪音水平的紫外區。大型玻璃、液晶電路板等光學電子材料亦可檢测。

廠牌/型號

  • 廠牌:HITACHI
  • 型號:U4100

條列說明

重要規格

  • 波長範圍:240~2600nm。
  • 樣品尺寸:Max.430 x 430 mm。
  • 檢知器:光電倍增管(UV/Vis)、恆溫冷卻式Pbs(NIR),60mm直徑積分球硫酸鋇鍍膜。
  • 波長最小刻劃:0.01 nm。
  • 波長精確度:NIR/Vis:±0.2nm;NIR:±1.0nm;附自動波長校正功能。
  • 燈源改變範圍:325至370nm可自動選擇。
  • 分光系统: 棱镜-光栅。
  • 測光型式:吸光度(ABS)、穿透率(%T)、反射率(%R),Energy on reference side 【E(R)】/sample side【E(S)】。

條列說明

使用規定

  • 樣品尺寸限制 (sample size)
    1. 塊材:min. 2 cm x 2 cm/max. 43 cm x 43 cm
    2. 液體:min. 3 mL
    3. 粉末:min. 3 mL (volume, not weight)
    4. 量測波長範圍 (wavelength scanning range):240-2600 nm
    5. 塊材樣品尺寸需能完整覆蓋測量窗口( 2 cm x 2 cm),照光面積為5*5 mm2
    6. 不接受腐蝕性或毒性樣品,液體樣品請自行回收廢液。(no toxic or corrosive sample)
    7. 代工量測條件填寫不完全將退件 (OEM won't be executed with incomplete testing condition)
    8. 完成量測後會email寄送檔案與通知取件,請盡快拿回您的樣品,本中心不負保管責任。

預約系統

微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list

微奈米系統-代工:

https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_OEM/OEM_application

技術手冊

 

橢圓偏光儀 (Ellipsometer)

儀器中文全名

4205 橢圓偏光儀

儀器中文簡稱

橢偏儀

儀器英文全名

4205 Ellipsometer

儀器英文簡稱

SE

儀器位置

B1檢測實驗室

儀器管理人

李芃葶

TEL

06-2757575 ext.31389

E-mail

ptli@ncku.edu.tw

技術類別

(請勾選)

□ 微影

□ 蝕刻

□ 後處理

□ 薄膜成長

□ 試片製備

□ 奈米壓痕

□ 掃描探針

□ 掃描式電顯

□ 穿透式電顯

□ 離子電子雙束系統

□ 光學顯微鏡

■ 光學檢測

□ 晶體分析

□ 粒徑分析

□ 物理性質

□ 核磁共振儀

□ 表面分析

□ 質譜儀

□ 進階服務

□ 其他

應用/功能簡介

(100字內)

橢圓偏光儀為一種非破壞性且快速的光學檢測儀器,量測到的偏振光狀態變化,藉由後端模型建立及分析,可得知薄膜材料之厚度、折射率、消光係數、介電常數以及色度等相關資訊。

廠牌/型號

  • 廠牌:J. A. Woollam Co., Inc.
  • 型號:M-2000DI

條列說明

重要規格

  • 光源:193 nm~1689 nm (氘燈+鎢絲燈)
  • 入射角:45˚- 90˚
  • 可量測厚度:10 nm – several μm
  • 樣品大小:大於 1cm * 1cm
  • 樣品總高度(基材+薄膜):小於 1.8 cm

條列說明

使用規定

  • 樣品表面平整均勻。
  • 基板需為單拋,避免背向反射光。

預約系統

微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list

微奈米系統-代工:

https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_OEM/OEM_application

技術手冊

 

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