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光學檢測
光學檢測 Property Analysis/Detection
光學檢測 Property Analysis/Detection
微拉曼及微光激發光譜儀 (Micro-Ramam & Micro-PL Sperctrometer)
拉曼光譜儀/顯微鏡 (Ramam Sperctrometer/Microscopy)
儀器中文全名 |
4201 拉曼光譜儀/顯微鏡 |
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儀器中文簡稱 |
顯微拉曼 |
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儀器英文全名 |
4201 Microscopes Raman Spectrometer |
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儀器英文簡稱 |
Raman/OM |
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儀器位置 |
B1檢測實驗室 |
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儀器管理人 |
李芃葶 |
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TEL |
06-2757575 #31389 |
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ptli@ncku.edu.tw |
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技術類別 (請勾選) |
□ 微影 |
□ 蝕刻 |
□ 後處理 |
□ 薄膜成長 |
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□ 試片製備 |
□ 奈米壓痕 |
□ 掃描探針 |
□ 掃描式電顯 |
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□ 穿透式電顯 |
□ 離子電子雙束系統 |
□ 光學顯微鏡 |
■ 光學檢測 |
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□ 晶體分析 |
□ 粒徑分析 |
□ 物理性質 |
□ 核磁共振儀 |
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□ 表面分析 |
□ 質譜儀 |
□ 進階服務 |
□ 其他 |
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應用/功能簡介 (100字內) |
利用拉曼散射現象將樣品進行分析,從而獲取樣品分子結構和振動特性的資訊。 拉曼光譜應用雷射光進行測量,雷射入射光子與物質相互作用時,會產生頻率產生變化的散射光子,此變化稱拉曼位移,藉由量測此位移可以取得樣品的分子結構和振動特性。 透過拉曼光譜技術,可以了解生物分子、材料和化學物質等的結構與性質。 |
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廠牌/型號 |
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條列說明 重要規格 |
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條列說明 使用規定 |
不得量測具揮發性、有毒有機溶劑。 |
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預約系統 |
微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list 微奈米系統-代工: |
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技術手冊 |
[請另外提供電子檔] |
傅立葉轉換紅外光光譜儀 (Fourier Transform Infrared Sperctrometer)
儀器中文全名 |
4203 傅立葉轉換紅外光光譜儀 |
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儀器中文簡稱 |
傅立葉轉換紅外光光譜儀 |
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儀器英文全名 |
4203 Fourier Transform Infrared Spectrometer |
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儀器英文簡稱 |
FTIR |
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儀器位置 |
B1檢測實驗室 |
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儀器管理人 |
莊雅雯 |
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TEL |
06-2757575 #31383 #9 |
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10708150@gs.ncku.edu.tw |
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技術類別 (請勾選) |
□ 微影 |
□ 蝕刻 |
□ 後處理 |
□ 薄膜成長 |
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□ 試片製備 |
□ 奈米壓痕 |
□ 掃描探針 |
□ 掃描式電顯 |
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□ 穿透式電顯 |
□ 離子電子雙束系統 |
□ 光學顯微鏡 |
■ 光學檢測 |
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□ 晶體分析 |
□ 粒徑分析 |
□ 物理性質 |
□ 核磁共振儀 |
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□ 表面分析 |
□ 質譜儀 |
□ 進階服務 |
□ 其他 |
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應用/功能簡介 (100字內) |
紅外線光譜學是研究某一化學分子或化學物種因吸收 (或發射)紅外線輻射而在某些振動模式下產生振動或振動—轉動能量的變化。藉助於紅外線光譜的分析,化合物的鑑定與含量得以決定。 |
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廠牌/型號 |
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條列說明 重要規格 |
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條列說明 使用規定 |
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預約系統 |
微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list 微奈米系統-代工: |
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技術手冊 |
[請另外提供電子檔] |
紫外光-可見光-近紅外光光譜儀 (UV/Visual/NIR Sperctrophotometer)
儀器中文全名 |
4204 紫外光/可見光/近紅外光分光光譜儀 |
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儀器中文簡稱 |
紫外光/可見光/近紅外光分光光譜儀 |
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儀器英文全名 |
4204 UV/Visible/NIR Spectrophotometer |
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儀器英文簡稱 |
UV/Visible/NIR Spectrophotometer |
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儀器位置 |
B1檢測實驗室 |
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儀器管理人 |
莊雅雯 |
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TEL |
06-2757575 #31383 #9 |
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10708150@gs.ncku.edu.tw |
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技術類別 (請勾選) |
□ 微影 |
□ 蝕刻 |
□ 後處理 |
□ 薄膜成長 |
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□ 試片製備 |
□ 奈米壓痕 |
□ 掃描探針 |
□ 掃描式電顯 |
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□ 穿透式電顯 |
□ 離子電子雙束系統 |
□ 光學顯微鏡 |
■ 光學檢測 |
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□ 晶體分析 |
□ 粒徑分析 |
□ 物理性質 |
□ 核磁共振儀 |
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□ 表面分析 |
□ 質譜儀 |
□ 進階服務 |
□ 其他 |
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應用/功能簡介 (100字內) |
此儀器測量涵蓋了廣泛的波長範圍和樣本大小,能夠滿足各種分析需求,結合各種特殊的附件,如利用積分球測量物件的穿透率和反射率,並且可以測量低噪音水平的紫外區。大型玻璃、液晶電路板等光學電子材料亦可檢测。 |
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廠牌/型號 |
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條列說明 重要規格 |
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條列說明 使用規定 |
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預約系統 |
微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list 微奈米系統-代工: |
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技術手冊 |
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橢圓偏光儀 (Ellipsometer)
儀器中文全名 |
4205 橢圓偏光儀 |
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儀器中文簡稱 |
橢偏儀 |
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儀器英文全名 |
4205 Ellipsometer |
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儀器英文簡稱 |
SE |
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儀器位置 |
B1檢測實驗室 |
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儀器管理人 |
李芃葶 |
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TEL |
06-2757575 ext.31389 |
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ptli@ncku.edu.tw |
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技術類別 (請勾選) |
□ 微影 |
□ 蝕刻 |
□ 後處理 |
□ 薄膜成長 |
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□ 試片製備 |
□ 奈米壓痕 |
□ 掃描探針 |
□ 掃描式電顯 |
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□ 穿透式電顯 |
□ 離子電子雙束系統 |
□ 光學顯微鏡 |
■ 光學檢測 |
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□ 晶體分析 |
□ 粒徑分析 |
□ 物理性質 |
□ 核磁共振儀 |
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□ 表面分析 |
□ 質譜儀 |
□ 進階服務 |
□ 其他 |
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應用/功能簡介 (100字內) |
橢圓偏光儀為一種非破壞性且快速的光學檢測儀器,量測到的偏振光狀態變化,藉由後端模型建立及分析,可得知薄膜材料之厚度、折射率、消光係數、介電常數以及色度等相關資訊。 |
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廠牌/型號 |
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條列說明 重要規格 |
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條列說明 使用規定 |
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預約系統 |
微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list 微奈米系統-代工: |
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技術手冊 |
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