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奈米壓痕
奈米壓痕 Indentation
奈米壓痕 Indentation
奈米壓痕試驗機 (Nano-Indentation System, MTS G200)
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儀器中文全名 |
3301穿透式電子顯微鏡之In-Situ奈米壓痕試驗機 |
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儀器中文簡稱 |
穿透式電子顯微鏡之In-Situ奈米壓痕試驗機 |
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儀器英文全名 |
3301 In-Situ Nano-Indentation System, TEM-2010 |
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儀器英文簡稱 |
In-Situ Nano-Indentation System, TEM-2010 |
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儀器位置 |
B1 檢測室 |
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儀器管理人 |
林家宇 |
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TEL |
06-2757575 ext. 31380#248 (辦公室)、31383# 9 (實驗室) |
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chiayu@gs.ncku.edu.tw |
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技術類別 (請勾選) |
□ 微影 |
□ 蝕刻 |
□ 後處理 |
□ 薄膜成長 |
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□ 試片製備 |
□ 奈米壓痕 |
□ 掃描探針 |
□ 掃描式電顯 |
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■ 穿透式電顯 |
□ 離子電子雙束系統 |
□ 光學顯微鏡 |
□ 光學檢測 |
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□ 晶體分析 |
□ 粒徑分析 |
□ 物理性質 |
□ 核磁共振儀 |
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□ 表面分析 |
□ 質譜儀 |
□ 進階服務 |
□ 其他 |
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應用/功能簡介 (100字內) |
TEM PicoIndenter則可在TEM下直接觀察負載─位移間資料與影像相互關係，例如相變化、差排滑移變化及破壞行為的發生等；且藉由設定負載大小、壓痕深度、受力─卸載之時間設定，可觀察奈米材料尺度之性質，如壓痕、壓縮、彎曲等特性，並擁有多種操作模式可以選擇，包含：閉迴路力量平衡控制系統、閉迴路位移控制系統及開迴路力量控制系統等。 |
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廠牌/型號 |
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條列說明 重要規格 |
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條列說明 使用規定 |
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預約系統 |
微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list 微奈米系統-代工: |
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技術手冊 |
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奈微拉伸試驗機 (Micro/Nano Tensile Tester)
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儀器中文全名 |
2303 奈微拉伸試驗機 |
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儀器中文簡稱 |
奈微拉伸試驗機 |
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儀器英文全名 |
2303 Micro/Nano Tensile Tester |
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儀器英文簡稱 |
Micro/Nano Tensile Tester |
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儀器位置 |
B1檢測實驗室 |
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儀器管理人 |
簡秀真 |
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TEL |
(06)2757575#31389#9 |
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shioujen@mail.ncku.edu.tw |
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技術類別 (請勾選) |
□ 微影 |
□ 蝕刻 |
□ 後處理 |
□ 薄膜成長 |
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□ 試片製備 |
■ 奈米壓痕 |
□ 掃描探針 |
□ 掃描式電顯 |
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□ 穿透式電顯 |
□ 離子電子雙束系統 |
□ 光學顯微鏡 |
□ 光學檢測 |
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□ 晶體分析 |
□ 粒徑分析 |
□ 物理性質 |
□ 核磁共振儀 |
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□ 表面分析 |
□ 質譜儀 |
□ 進階服務 |
□ 其他 |
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應用/功能簡介 (100字內) |
奈微拉伸試驗機可以測量出位移與荷重圖、位移與荷重疲勞測試之材料特性功能。奈微拉伸試驗乃藉由力量設定，針對受測材料之特性以了解其抵抗能力和斷裂前材料之伸張情形。而彈性係數可由已知材料斷面積及單位長度值，再藉由位移與荷重圖以求得材料本身的剛性。對於不同材料通常比較其拉伸強度、彈性係數和伸長量等數據，其中位移與荷重圖、位移與荷重疲勞測試是材料特性極其重要的性質，因其不僅能得知材料本身的強度，也是材料性質最具代表性的項目。 |
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廠牌/型號 |
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條列說明 重要規格 |
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條列說明 使用規定 |
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預約系統 |
微奈米系統-自行操作: https://cfc2021.cfc.ncku.edu.tw/cmnst_e_system/index.php/facility/admin/available/list 微奈米系統-代工: |
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技術手冊 |
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